利用飛行時間二次離子質譜儀可以做到的多種分析

 　　飛行時間二次離子質譜儀在表面分析中具有很高的靈敏度◕₪•│。該方法利用一次離子激發樣品表面微量二次離子☁₪◕✘，並根據二次離子飛向探測器的時間長短來確定離子質量◕₪•│。由於離子在TOF-SIMS中的飛行時間只與質量有關☁₪◕✘，所以它一次脈衝就可以得到全譜☁₪◕✘，離子利用率高☁₪◕✘，可以實現樣品的靜態分析◕₪•│。