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產品展示
  • XEM吸附分析儀器
    XEMIS是一款高精度的吸附微量天平╃₪,用於環境下的精密測量↟▩↟╃│。它可作為微量天平單獨使用╃₪,也可作為完整的吸附分析儀器↟▩↟╃│。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性↟▩↟╃│。 XEMIS微量天平採用了Hiden Isochema特有的外部感知技術╃₪,可在高溫☁✘、高壓條件下進行重量吸附分析╃₪,也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用↟▩↟╃│。
    時間₪·│:2022-11-08型號₪·│:XEM瀏覽量₪·│:640
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