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濺射中性粒子質譜儀

簡要描述│◕:MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰₪◕◕、陽離子動態和中性粒子↟◕,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面↟◕,應用於SIMS和SNMS的光學取樣✘·。
·光柵控制↟◕,增強深度分析能力
·所有能量範圍內↟◕,離子行程的小擾動↟◕,及恆定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩定的脈衝離子計數檢測器

  • 產品型號│◕:MAXIM
  • 廠商性質│◕:代理商
  • 更新時間│◕:2021-09-03
  • 訪  問  量│◕:667
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MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰₪◕◕、陽離子動態和中性粒子↟◕,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面↟◕,應用於SIMS和SNMS的光學取樣✘·。

·光柵控制↟◕,增強深度分析能力 ·所有能量範圍內↟◕,離子行程的小擾動↟◕,及恆定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈衝離子計數檢測器 ·

質量數範圍│◕: 300amu↟◕,500amu↟◕,1000amu ·檢測器│◕: 離子計數探測器₪◕◕、正負離子探測器₪◕◕、107 cps ·質量過濾器│◕: 3F四級杆 ·桿直徑│◕: 9mm ·加熱│◕: 250℃ ·離子源│◕: 電子轟擊↟◕,可用於SNMS和RGA的單根燈絲

 

MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰₪◕◕、陽離子動態和中性粒子↟◕,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面↟◕,應用於SIMS和SNMS的光學取樣✘·。 ·光柵控制↟◕,增強深度分析能力 ·所有能量範圍內↟◕,離子行程的小擾動↟◕,及恆定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈衝離子計數檢測器 ·質量數範圍│◕: 300amu↟◕,500amu↟◕,1000amu ·檢測器│◕: 離子計數探測器₪◕◕、正負離子探測器₪◕◕、107 cps ·質量過濾器│◕: 3F四級杆 ·桿直徑│◕: 9mm ·加熱│◕: 250℃ ·離子源│◕: 電子轟擊↟◕,可用於SNMS和RGA的單根燈絲

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