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二次離子質譜儀

簡要描述₪·☁:二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描▩▩₪│,自動測量正✘·│▩、負和中性粒子◕✘☁₪。

  • 產品型號₪·☁:SIMS Workstation
  • 廠商性質₪·☁:代理商
  • 更新時間₪·☁:2022-07-27
  • 訪  問  量₪·☁:1012
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詳細介紹
品牌其他品牌應用領域醫療衛生,環保,化工,生物產業

二次離子質譜儀
1. 適合做多層薄膜的深度分析◕✘☁₪。

2. 很好的✘·│▩、耐用的✘·│▩、普通目的的二次離子質譜儀◕✘☁₪。

3. 方便使用◕✘☁₪。

4. 樣品可以手動轉換▩▩₪│,由於分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品◕✘☁₪。

5. 我們的系統可配置快速原子槍▩▩₪│,使我們可以輕鬆處理絕緣的樣品◕✘☁₪。

6. 我們還可以做元素成像(就象化學地圖)和混合模式掃描▩▩₪│,自動測量正✘·│▩、負和中性粒子◕✘☁₪。

7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺▩▩₪│,很容易滿足很多其它分析的使用◕✘☁₪。 結構緊湊▩▩₪│,但不損失效能◕✘☁₪。真正的高性價比◕✘☁₪。


高靈敏度脈衝離子計數檢測器▩▩₪│,7個數量級的動態範圍
SIMS 成像▩▩₪│,解析度在微米以下
光柵控制▩▩₪│,增強深度分析能力 
所有能量範圍內▩▩₪│,離子行程的小擾動▩▩₪│,及恆定離子傳輸
差式泵3級過濾四極杆▩▩₪│,質量數範圍至1000amu 
靈敏度高 / 穩定的脈衝離子計數檢測器
Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護
透過RS232✘·│▩、RS485或Ethernet LAN▩▩₪│,軟體 MASsoft控制

 
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