當前位置·◕✘☁·:網站首頁 > 產品展示 > 等離子體-材料表面 > 飛行時間二次離子質譜儀
產品展示
  • TOF-qSIMS飛行時間二次離子質譜儀
    Hiden TOF-qSIMS飛行時間二次離子質譜工作站設計用於多種材料的表面分析和深度剖析應用✘◕◕,包括聚合物✘◕◕,藥物✘◕◕,超導體✘◕◕,半導體✘◕◕,合金✘◕◕,光學和功能塗層以及電介質✘◕◕,檢測限低於1ppm↟╃₪。
    時間·◕✘☁·:2023-05-26型號·◕✘☁·:TOF-qSIMS瀏覽量·◕✘☁·:6812
  • EQS二次離子質譜儀
    離子分析質譜儀/飛行時間二次離子質譜儀可分析來自固體樣品的二次陰◕₪₪₪·、陽離子和中性粒子↟╃₪。採用技術的SIMS 探針✘◕◕,便於連結到現有的UHV表面科學研究反應室↟╃₪。
    時間·◕✘☁·:2023-05-26型號·◕✘☁·:EQS瀏覽量·◕✘☁·:4278
  • SIMS Workstation二次離子質譜儀
    二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描✘◕◕,自動測量正◕₪₪₪·、負和中性粒子↟╃₪。
    時間·◕✘☁·:2023-05-26型號·◕✘☁·:SIMS Workstation瀏覽量·◕✘☁·:1605
    共 3 條記錄✘◕◕,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
Contact Us
  • 聯絡QQ·◕✘☁·:52436437
  • 聯絡郵箱·◕✘☁·:info@extratech.com.cn
  • 聯絡電話·◕✘☁·:010 5272 2415
  • 聯絡地址·◕✘☁·:北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

掃一掃  微信諮詢

© 2023 北京英格海德分析技術有限公司 版權所有  備案號·◕✘☁·:京ICP備05008133號-4  技術支援·◕✘☁·:化工儀器網    管理登陸    sitemap.xml

服務熱線
13501238067

微信掃一掃

偷看农村妇女牲交,女子自慰喷潮a片免费观看,影音先锋男人看片av资源网在线,韩国成熟妇人a片好爽在线看